وصف المنتج

مقبس اختبار IC ‏ZIF ضيق بعرض 28 طرفًا هو مقبس بتقنية الإدخال الصفري للقوة (Zero Insertion Force) مصمم لتسهيل تركيب وإزالة واختبار الدوائر المتكاملة DIP ذات 28 طرفًا والحجم الضيق. يتيح آلية التشغيل باستخدام ذراع إدخال وإزالة الدائرة المتكاملة دون الحاجة إلى الضغط على أطرافها، مما يساعد على تقليل احتمالية انحناء أو تلف الأرجل، ويجعله مناسبًا للبرمجة والاختبار والنماذج الأولية واستبدال الدوائر المتكاملة بشكل متكرر.

المميزات والمواصفات

• مقبس اختبار IC من نوع ZIF بعدد 28 طرفًا.
• يدعم حزم DIP ذات التصميم الضيق.
• تصميم Zero Insertion Force.
• سهولة تركيب وإزالة الدوائر المتكاملة.
• آلية قفل وتشغيل بواسطة ذراع.
• يساعد على تقليل انحناء وتلف أرجل IC.
• مناسب للدوائر المتكاملة من نوع DIP.
• تصميم متين وقابل لإعادة الاستخدام.

الاستخدامات

• اختبار الدوائر المتكاملة واستكشاف الأعطال.
• برمجة المتحكمات الدقيقة.
• النماذج الأولية للإلكترونيات.
• لوحات التطوير.
• استبدال دوائر DIP.
• مشاريع الإلكترونيات DIY.
• التعليم ومشاريع STEM والإلكترونيات.

• أجهزة برمجة واختبار الدوائر المتكاملة.